研究設備

絶対PL量子収率測定装置(Quantaurus-QY Plus)

1650 nmまでの近赤外領域測定、高感度測定(低量子収率の評価)、
アップコンバージョン発光測定が可能です。

励起光源は、高出力キセノンランプ、

ダイオードレーザー(980・793・630nm)を選択できます。

走査型プローブ顕微鏡(SPM-9700HT )

光照射下での測定や微小電流、表面電位(KFM)測定も可能です。


new!! デスクトップX線回折装置(MiniFlex)

高速1次元検出器D/teX Ultra2を用いた薄膜や粉末試料の測定が可能です。



new!! センサーガスクロマトグラフ

水素を10ppbから高感度に検出・定量することができます。


エネルギー分散型蛍光X線分析装置(EDX-7200)

軽元素の高感度測定(真空測定)や微量分析が可能です。

紫外可視分光光度計(UV-2600)

積分球ユニットを用いた固体測定や直線偏光吸収測定も可能です。

分光蛍光光度計(FP-8600)

測定波長範囲(200-1010nm)、直線偏光発光、

液体窒素温度での測定が可能です。

赤外分光光度計(FT-IR/4600)

ATR(全反射吸収測定)、RAS(高感度反射測定、偏光対応)、

拡散反射測定が可能です。

光照射型マニュアルプローバー

モノクロメータ式キセノン光源(MAX-350)

を裏面から照射できます(照射波長:385-1050nm)。

微弱な光照射下での、電流電圧測定が可能です。

微小電流高速光応答測定システムプログラマブル電流増幅器(CA5350)、

ライトチョッパ(4Hz~4kHz)、オシロスコープを

用いて微小電流の高速光応答を計測できます。

new!! 粒子径分布測定装置(Litesizer 500

動的光散乱法 (DLS)による粒子径計測が可能です。

また、電気泳動光散乱法によるゼータ電位測定を行うことができます。 

new!! クリーンブース(class 1000)

真空蒸着装置(抵抗加熱式、SVC-700TMSG/7PS800E)

金属(電極)蒸着のほか、有機物の蒸着も可能です。

スピンコーター(MS-A100 

UVオゾン処理装置

真空ライン(ナノ粒子合成)

その他(学科共通設備):粉末・薄膜X線回折装置(Miniflex)、FE-SEM(JSM-6700)、XPS(JPS-9000)